微区分析
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球差校正透射电子显微镜
联系人：刘惠普
联系邮箱：hpliu@fudan.edu.cn
放置地点：江湾校区化学楼A0005室
基础信息
设备型号：ARM200F
设备厂家：日本电子（JEOL）
主要规格及技术指标：加速电压80/200 kV，放大倍率20k-50M倍。
主要功能及特色：TEM、SAED、STEM（HAADF、ABF）、EDS能谱元素分析。冷场发射电子枪光源能量发散度小，相干性好。ASCOR球差校正器可以提供小于0.07 nm的束斑，使得分析速度和质量飞跃性提高。STEM HAADF分辨率： 0.0784 nm（200 kV），0.111 nm（80 kV）。
复旦大学材料科学系
