性能分析
性能分析
性能分析
多功能薄膜光学分析仪
联系人：刘园园
联系邮箱：liuyy@fudan.edu.cn
放置地点：江湾校区先进材料楼237室
基础信息
设备型号：Analyzer 1280
设备厂家：n&k Technology
主要规格及技术指标：可测量波长范围190nm~1000nm；基板大小：2、3、4、6寸大小或破片，不透光与透光基板皆可。
主要功能及特色：可测量介电材料、半导体、透明导体、高分子材料等。反射光谱与透射光谱测量，获得薄膜厚度、消光因子、折射率。
复旦大学材料科学系
