微区分析
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场发射扫描电子显微镜
联系人：刘惠普
联系邮箱：hpliu@fudan.edu.cn
放置地点：江湾校区化学楼A0005室
基础信息
设备型号：JSM-6701F
设备厂家：日本电子（JEOL）
主要规格及技术指标：加速电压：0.5kV~30kV，二次电子图像分辨率：1.0 nm (15 kV)/2.2 nm (1 kV)，放大倍数：×25～650000。
主要功能及特色：配有JFC-1600喷金仪。可测试各种材料的二次电子像、背散射像、能谱。可对块体、粉末等各种形态固体材料的表面形貌和表面结构进行观察和分析；分析对固体材料的元素组成和分布。
复旦大学材料科学系
